Solicitud de admisión, Certificación Académica Personal, CV
Titulación oficial
Título de Doctor.
Prácticas
Trabajos de investigación tutelados.
Para qué te prepara
Líneas de Investigación: Metrología Dimensional, Determinación y Asignación de Incertidumbres, Variabilidad en Procesos de Fabricación y de Medición, Trazabilidad y Calibración, Acreditación de Laboratorios de Metrología, Técnicas de Control de Calidad, Técnicas de Mejora de la Calidad.
Dirigido a
Alumnos que acrediten poseer un Título Oficial de la UNED u otra universidad española de Licenciado, Ingeniero o Arquitecto o Título extranjero equivalente homologado por el MEC. En cualquier caso es imprescindible la aceptación previa del Director de Departamento correspondiente. Los estudiantes que posean un título superior extranjero no homologado, tendrán que solicitar al Rector de la UNED la autorización correspondiente.
N.º de Cursos que componen el Programa: 9 N.º de Trabajos de Investigación que componen el Programa: 4 Áreas de conocimiento a las que se adscribe: - FÍSICA APLICADA - INGENIERÍA DE LOS PROCESOS DE FABRICACIÓN - INGENIERÍA MECÁNICA
Coordinadores: Dr. D. Miguel Ángel Sebastián Pérez, Dr. D. Ángel M. Sánchez Pérez
INDICACIONES GENERALES: Se deberá solicitar la admisión en uno de los dos Departamentos responsables: Dpto. de Ingeniería de Construcción y Fabricación de la Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales de la UNED o Dpto. de Física aplicada a la Ingeniería Industrial de la Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales de la UPM. Los alumnos admitidos deberán cumplimentar los trámites administrativos de matriculación y formalización de su expediente o bien en la Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales de la UNED o en la Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales de la UPM.Se deberán cursar los cursos obligatorios que se ofertan (2 en la UPM y 1 en la UNED), así como un total de 2 cursos optativos de entre los 6 ofertados (4 por la UPM y 2 por la UNED). Con ello se completan los 20 créditos que conforman el período docente del Programa de Doctorado.
PERÍODO DE DOCENCIA - Cursos que componen el Programa FUNDAMENTOS DE METROLOGÍA Profesores:Dr. D. Ángel M. Sánchez Pérez, Dr. D. Javier Carro De Vicente-Portela
Instrumentos, patrones, materiales de referencia y mensurandos. Corrección e incertidumbre de las medidas: trazabilidad y calibración. Recomendaciones del CIPM sobre evaluación de incertidumbres. Naturaleza estadística de los resultados de medida: repetibilidad y reproducibilidad. Medidas directas e indirectas: ley de propagación de varianzas y covarianzas. Estimación de las contribuciones de incertidumbre. Grados de libertad y su propagación: fórmula de Welch-Satterhwaite. Modelos de calibración de patrones e instrumentos. Modelos de medida. Casos prácticos.
METROLOGÍA DIMENSIONAL Profesores:Dr. D. Javier Carro De Vicente-Portela, Dr. D. Jesús De Vicente Y Oliva
Interferometría: diseminación de la unidad de longitud. Principios ópticos del fenómeno de interferencia. Interferómetros y método de los excedentes fraccionarios. Interferometría láser. Otras aplicaciones de la interferometría. Longitudes y ángulos: definiciones geométricas. Materiales y métodos de fabricación. Empleo y composición de juegos. Comparación y certificación. Medida de formas: definición geométrica y patrones. Métodos de medida y calibración. Rectitud, planitud y redondez. Roscas, engranajes, plantillas y otros elementos.
TEMAS AVANZADOS DE METROLOGÍA DIMENSIONAL Profesores:Dr. D. Javier Carro De Vicente-Portela, Dr. D. Jesús De Vicente Y Oliva
Láser: emisores estabilizados. Calibración de emisores láser estabilizados. Sistemas interferométricos láser. Difracción. Incidencia del láser en la diseminación de la unidad de longitud. Medidas por coordenadas: medidoras de una coordenada horizontal o vertical, de dos y de tres coordenadas. Calibración de medidoras por coordenadas. Calibración y verificación en medidoras de tres coordenadas: normativa internacional.
GESTIÓN DE LA METROLOGÍA Y SISTEMAS DE CALIDAD DIMENSIONAL Profesores:Dr. D. Ángel M. Sánchez Pérez, Dr. D. Javier Carro De Vicente-Portela
Aseguramiento de la trazabilidad metrológica: plan de calibración e intercomparaciones. Organización racional y sistemática de la calibración de un centro de medición. Plan de calibración: diagrama de niveles, grupos y niveles de calibración, diagramas de trazabilidad interna, procedimientos de calibración, archivo de resultados y certificados y etiquetas de calibración. Intercomparaciones de medidas: índices de compatibilidad y cualificación. La informática en la gestión metrológica. Condiciones constructivas y ambientales de salas de metrología. Sistemas de acreditación de laboratorios de calibración y de ensayo. Sistemas de certificación. Organizaciones nacionales e internacionales de metrología. Normalización metrológica.
HISTORIA DE LA METROLOGÍA Profesor:Dr. D. Carlos E. Granados González
Necesidad de la metrología en las primeras civilizaciones: los primitivos sistemas de unidades. El desarrollo de la metrología como consecuencia de la evolución científica y tecnológica. Los primeros patrones e instrumentos de medida de longitud y de sus magnitudes derivadas: superficie, volumen y capacidad. Instrumentos, patrones y métodos de medida de peso y masa. La medida del tiempo. Las medidas y los sistemas de unidades en la Edad Media. El sistema métrico decimal. El sistema imperial de unidades: evolución en Europa y América. Ampliación de las áreas metrológicas durante los siglos XIX y XX debido al enorme desarrollo de la ciencia y de la técnica. El sistema internacional de unidades (SI). Análisis histórico de la metrología en las magnitudes más recientes: eléctricas, mecánicas, ópticas, térmicas, químicas y de radiaciones ionizantes.
MICROGEOMETRÍA Profesor:Dr. D. José María Díaz De La Cruz
Introducción a la metrología de superficies: forma, ondulación y rugosidad. Transformadas bidimensionales de Fourier y Laplace. Descripción estocástica de perfiles y superficies. Microgeometría de perfiles y superficies. Dispersión óptica de la luz por una superficie rugosa de perfil periódico o de perfil aleatorio. Métodos ópticos de medidas microgeométricas: "speckles". Otras aplicaciones de medida empleando "speckles". Rugosidad y propiedades físicas y mecánicas. Métodos clásicos para la medida de rugosidad. Normas internacionales. Trazabilidad de las medidas microgeométricas.
FUNDAMENTOS E INGENIERÍA DE LA CALIDAD Profesores:Dr. D. Miguel Ángel Sebastián Pérez, Dra. Dª. Cristina González Gaya Dr. D. José Ramón Gil Bercero
Se exponen los fundamentos estadísticos de las técnicas de control y mejora de la calidad, así como los distintos aspectos organizativos y de gestión correspondientes a la implantación de la calidad en el ámbito industrial. También se desarrollan cuestiones de Carácter aplicativo tales como las relacionadas con la certificación de empresas y productos; la elaboración y el mantenimiento de la documentación de los sistemas normalizados de la calidad UNE-EN-ISO 9000 y la realización de auditorías de calidad.
PLANIFICACIÓN Y ANÁLISIS DE MODELOS PRODUCTIVOS Profesores:Dr. D. Rosario Domingo Navas, Dra. Dª. Cristina González Gaya
Introducción a la producción y a los sistemas productivos. Análisis técnico-económico de los procesos de fabricación. Planificación de sistemas y procesos de fabricación. Métodos para la planificación de las necesidades. Programación y control de la producción. Implantación de sistemas integrados de calidad, seguridad y gestión medioambiental en entornos de fabricación.
TECNOLOGÍAS E INGENIERÍA PARA LA FABRICACIÓN SOSTENIBLE Profesores:Dr. D. Rosario Domingo Navas, Dra. Dª. Cristina González Gaya, Dr. D. José Antonio Martínez Torres
Nuevos enfoques de la actividad productiva. Normativa y reglamentación medioambiental. Ingeniería del mecanizado limpio. Análisis tecnológico de procesos alternativos de fabricación desde la óptica de su repercusión ambiental. Evaluación del impacto ambiental de los procesos de fabricación. Optimización medioambiental de procesos de fabricación.
PERÍODO DE INVESTIGACIÓN - Trabajos que componen el Programa INVESTIGACIÓN EN METROLOGÍA DIMENSIONAL Profesores:Dr. D. Ángel M. Sánchez Pérez, Dr. D. Javier Carro De Vicente-Portela, Dr. D. Jesús De Vicente Y Oliva INVESTIGACIÓN EN MICROGEOMETRÍA Profesores:Dr. D. Ángel M. Sánchez Pérez, Dr. D. Javier Carro De Vicente-Portela, Dr. D. José María Díaz De La Cruz INVESTIGACIÓN EN INGENIERÍA DE LOS PROCESOS DE FABRICACIÓN Profesores:Dr. D. Miguel Ángel Sebastián Pérez, Dr. D. Rosario Domingo Navas, Dra. Dª. Cristina González Gaya INVESTIGACIÓN EN INGENIERÍA DE LA CALIDAD Profesores:Dr. D. Miguel Ángel Sebastián Pérez, Dr. D. Rosario Domingo Navas, Dra. Dª. Cristina González Gaya, Dr. D. José Antonio Martínez Torres
Titulación oficial
Prácticas
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